SZM系列 高速測量光幕 測量光柵,橫截面積:35*35mm
測量光幕介紹
SZM測量光幕:速度不僅僅只快一點,單點響應(yīng)時間最快0.9微秒!
SZM測量光幕響應(yīng)時間不是快一點,而是高速響應(yīng),是目前市場上速度最高的測量光幕之一,“高速掃描”功能縮短了運算時間,使響應(yīng)時間提高為市場上普通測量光幕的三倍,所以,SZM能檢測以及測量高速運行的小物體,彰顯快速可靠的檢測功能優(yōu)勢。
SZM測量光幕:超高的分辨率 可檢測更細小的物
SZM系列測量光幕具有1mm、2mm、2.5mm、5mm、7.5mm、10mm、15mm、20mm、30mm、40mm、60mm等的光軸間距,即使在困難環(huán)境下也能檢測到小型物體,“高精度掃描”功能不降低光軸間距的前提下,顯著提高分辨率,確保可準(zhǔn)確檢測與測量任何尺寸的物體,智能且高效。
SZM測量光幕:可在嚴(yán)苛環(huán)境中可靠運行
SZM系列測量光幕所采用的電子元器件全為進口,具有耐低溫,高溫的性能,全貼片處理,同時具備高亮物體的檢測穩(wěn)定性以及超強的抗環(huán)境光干擾能力,可適應(yīng)各種惡劣的環(huán)境使用,可大大減少停機的時間,提供作業(yè)效率。
SZM測量光幕:操作如此簡單
SZM系列測量光幕采用大規(guī)模內(nèi)部編程處理技術(shù),能自動識別使用環(huán)境,無需使用者進行復(fù)雜的手動操作,上電即可使用,節(jié)省時間。
操作原理
SZM系列測量光幕所采用的電子元器件全為進口,具有耐低溫,高溫的性能,全貼片處理,同時具備高亮物體的檢測穩(wěn)定性以
及超強的抗環(huán)境光干擾能力,可適應(yīng)各種惡劣的環(huán)境使用,可大大減少停機的時間,提供作業(yè)效率。
掃描方式
1、平行掃描(默認):掃描所有光束,發(fā)射器的發(fā)射與接收器的接收是一一對應(yīng)的關(guān)系。
2、交叉掃描:由平行掃描和傾斜光束組成,傾斜光束有發(fā)射器的第二通道對應(yīng)接收器的第一通道;直到發(fā)射器的最后一條通道對應(yīng)接收器的倒數(shù)第二通道,完成整個掃描。
3、單邊掃描:單邊掃描只能用于檢測光幕中被測物體上的邊緣,這種掃描模式可以減少檢測的反應(yīng)時間。
測量方式
根據(jù)不同物體的尺寸、形狀可以確定不同的測量方式,測量光幕安裝方式主要有三種:
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基準(zhǔn)線測量方式;
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基準(zhǔn)線擴展測量方式;
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中線線測量方式。
基本特點
可檢測最小物體尺寸為:0.5mm(1mm交叉);
檢測范圍:250—10000mm;
檢測高度:40-3000mm(常規(guī));
工作電源:12—36VDC;
響應(yīng)時間:產(chǎn)品型號為準(zhǔn),使自動化系統(tǒng)以最高的效率運行;
工作環(huán)境溫度: -15oC ~65oC;
信號輸出:NPN/PNP 晶體管信號;
應(yīng)用于物體尺寸測量、車輛外輪尺寸測量、自動化噴涂、瓦楞
技術(shù)參數(shù)
截面尺寸類型
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13*28mm / 18*38mm / 30*30mm / 35*35mm
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光軸數(shù)量
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4個點往上加2的倍數(shù)-任意選擇(4-500光軸)屬于常規(guī),其他光軸數(shù)量可定做
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檢測精度
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1mm、2mm、2.5mm、 5mm、7.5mm、10mm、15mm、20mm、30mm、40mm、60mm(11種可選擇)
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信號輸出類型
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1、開關(guān)量輸出:NPN/PNP通過程序設(shè)定遮擋不同數(shù)目的光束時,光幕才有信號輸出;
通過內(nèi)置(或外置)調(diào)整開關(guān),設(shè)定遮擋不同數(shù)目的光束時,光幕才有信號輸出;
應(yīng)用于孔洞檢測時,光幕任意一束及以上光束通光時光幕才有信號輸出;
應(yīng)用于八位二進制輸出,遮擋不同數(shù)目的光束時,光幕按照八位二進制方式輸出;
2、模擬量輸出:4-20mA;0-5VDC;0-10VDC,可接上位機或其他數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);
3、繼電器輸出:兩對常開觸點,一般以模擬量輸出為主;
4、具備RS232或RS485通訊功能,采用標(biāo)準(zhǔn)MODBUS協(xié)議與上位機進行通訊;
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檢測對射距離
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A:50-300mm B:50-1000mm C:1000mm-3000mm D:1000-5000mm E:2000-10000mm
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響應(yīng)時間
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在點數(shù)越多、精度越高的條件下所得到的響應(yīng)時間是不一樣的,最快響應(yīng)時間單點為9us,
如:10光軸,5mm檢測精度,最快的響應(yīng)時間為10*9us=90微秒(最終取決于產(chǎn)品型號)
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電源電壓
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DC12V-36V±10%
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光幕形式
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對射型
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波長
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850 nm
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抗干擾能力
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10000 Lux
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輸出負載
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100 nF
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電路保護
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反接保護/輸出短路保護
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外殼材質(zhì)
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鋁型材
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消耗功率
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3-8W
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外殼防護等級
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IP65 / IP67 / IP69K
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工作溫度
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-15℃--65℃
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同步類型
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線同步
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環(huán)境溫度
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20C,RH≤85%
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絕緣電阻
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>100 MΩ
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介電強度
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DC36V.5A
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產(chǎn)品認證
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CE FCC
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連接電纜
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通訊串口:3針、5針M12插頭
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應(yīng)用領(lǐng)域
物流:高度和超限測量
物流:體積測量
物流:包裝校準(zhǔn)
機床: 測量工件和模具
動態(tài)的倉庫系統(tǒng):高度和超限測量
交通技術(shù): 分揀和驗證
食品和飲料工業(yè):瓶罐識別
設(shè)備涂層:機器人控制
產(chǎn)品優(yōu)勢
?業(yè)界最快響應(yīng)速度:單點響應(yīng)速度9μs
?測量高度業(yè)界最高:高度可達10m
?業(yè)界檢測精度最高:最高1mm檢測精度
?信號輸出種類豐富:具有RS485、RS232、0-10V、4-20mA、開關(guān)量等輸出類型
?惡劣環(huán)境使用:IP69K級別測量光幕應(yīng)用于惡劣環(huán)境
?三種檢測方式:平行檢測、交叉檢測及單邊掃描
概覽
■ 高分辨率光幕:1,2,2.5,5,7.5,10,15,20,30,40,60mm 精度,多達11種選擇。
■ “高速掃描”功能具有三倍的掃描速度。
■ “透明模式”功能可檢測透明材料。
■ 在高分辨率測量中可設(shè)定精度到 1mm。
■ 數(shù)據(jù)壓縮:運行長度編碼 (RLC)。
您的受益
■ “高速掃描”功能具有在較短響應(yīng)時間內(nèi)檢測高速運動物體的能力。
■ 模塊化的設(shè)計概念使合適的解決方案總來自單一來源。
■ “高測量準(zhǔn)確度”功能用于可靠地檢測小型物體。
■ “透明模式”功能用于可靠地檢測和測量透明物體。
■ 集成電路接口和相應(yīng)的功能配件減少調(diào)試時間。
■ 配置軟件具有菜單式的幫助功能,縮短配置時間。
■ 通過帶 IO-copy的克隆功能和易維護,無需專業(yè)人員。
■ 較高的環(huán)境光抗擾度,可靠穩(wěn)定。
安全閘門方向識別
陸空式閘門將機場的通道分為安全和非安全區(qū)域。
如果人員從預(yù)先規(guī)定的方向通過閘門,即從安全區(qū)域出來,兩個依次安裝的自動化光幕將其視為正確。如果檢測到人員從錯誤的方向移動或者將物體從陸地上拋向空中,則會觸發(fā)警報。
自動登機門的人員控制
在自動登機門處必須確保不能有多人同時通過安全閘門。只有授權(quán)人員才能進入飛機。對此,通過多個水平和垂直布置的自動化光幕來確保。
確定行李車在機器人工作站中的位置
測量型自動化光幕在機器人工作站中提供行李車或行李空運集裝箱的位置信息。該光幕的特征在于單獨的光軸匹配、連續(xù)閾值適應(yīng)和環(huán)境光抗擾度。
監(jiān)控超長行李件
測量型自動化光幕在全自動行李檢錄站上測定行李件的長度。這確保了過長的行李間不被輸送到行李輸送設(shè)備上。在自動化測量光幕上,光束間距和監(jiān)控長度分別單獨定義。
避免立體倉庫出錯
通過將光幕安裝至訂購站的垂直和水平框架上,可以在手動的訂購站上確保正確選擇貨物。由于可以將光幕編碼至不同的區(qū)域,它會發(fā)出一個信號通過訂購站,是否從錯誤的倉庫區(qū)域選擇了貨物或訂購了過多貨物。
輸送技術(shù)中的動態(tài)高度測量
自動化光幕可精確測量各種不同物件的高度。這對于高度優(yōu)化、光幕可自行輕易控制的透明或鋁箔包裹的物件尤其重要。自動化光幕的工作溫度甚至可達到–30 °C~+65°C,適應(yīng)于冷凍儲存領(lǐng)域。SZM創(chuàng)新的緊固件將安裝費用降至最低。憑借反射安全性高、分辨率高和數(shù)據(jù)輸出迅捷的優(yōu)勢,自動化光幕還可用于垂直倉儲領(lǐng)域。
收費站的自動化光幕
自動化光幕被用于車輛分類。借助測得的數(shù)據(jù)能夠統(tǒng)計車輛車軸以及通過第一根車軸簡單測定車輛高度。為進行簡單車輛分類,可以使用分離技術(shù)。通過布置每個車道的多個光幕,能夠簡單地劃分車輛長度。
測量光柵選型要素
名詞解析:
設(shè)計尺寸
字母含義
A:上端蓋高度9mm B:燈板長度 C:控制板長度27mm
D:下端蓋高度13mm E:插頭高度33mm F:光軸檢測精度
G:測量高度 H:光幕面板高度 I:光幕總高度
J:上盲區(qū)高度 K:下盲區(qū)高度 L:光軸數(shù)量
計算公式
測量高度計算公式: G=(L-1)×F mm
外形總高度計算公式:I=F x L+ 82 mm
上盲區(qū)高度計算公式:J=F÷2 + 9 mm
下盲區(qū)高度計算公式:K=F÷2 + 40 mm
設(shè)計尺寸
部分尺寸表